IOS a été invité pour présenter ses services de microscopie électronique lors de l'événement An Afternoon of Mining Solutions with Zeiss, en marge du 47th Canadian Mineral Processor Conference, à Ottawa le 19 janvier prochain. Les récents développements technologiques ont multiplié les applications de la microscopie électronique et de la microanalyse en minéralogie, en géologie et en métallurgie extractive. Nous traiterons des diverses applications que nous avons développées, dont la caractérisation des sites d'accumulation des métaux dans les sols (Metal partitionning in soil by SEM-based X-Ray mapping: New applications for exploration and rehabilitation), et de leur utilité en exploration minérale et en géométallurgie. Cette activité organisée par Zeiss inclura des présentations, démonstrations et visites d'entreprise. Pour plus d'information, contacter Stephen Wood à [email protected].